標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)-標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)-納克無(wú)損公司

對(duì)比試樣校準(zhǔn)類型

1.渦流-當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素-利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，標(biāo)準(zhǔn)試樣/塊校準(zhǔn)公司，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。