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概述

研究晶體材料，x射線衍射方法非常理想非常有效，而對于液體和非晶態(tài)物固體，這種方法也能提供許多基本的重要數(shù)據(jù)。所以x射線衍射法被認(rèn)為是研究固體有效的工具。在各種衍射實驗方法中，基本方法有單晶法、多晶法和雙晶法。

結(jié)合測角儀的-幾何原理[4]，對衍射結(jié)果進(jìn)行分析 楚雄x射線衍射儀，只有裝填樣品表面與樣品架水平的情況下 文山x射線衍射儀，
才能-試樣表面在掃描過程中始終與-圓相切，使樣品表面與-圓有同一曲率，使探測器在短暫的掃描進(jìn)程中接收到更多的衍射線束，從而增強衍射線的強度，提高測量準(zhǔn)確性.所以，填樣與樣品架水平時衍射線峰強-，峰形也明銳，背底弱.而填樣高出和低于樣品架時大部分的晶面(hk
不滿足測角儀的-幾何原理，掃描過程中探測器接收到的信號比較弱，所以表現(xiàn)在衍射圖譜上就是較弱的峰強和較高的背底.這2種裝樣方法都是我們測量中應(yīng)該盡量避免的.

在晶粒尺寸和點陣畸變測定過程中，需要做的工作有兩個：⑴ 從實驗線形中得出純衍射線形 德宏x射線衍射儀，普遍的方法是傅里葉變換法和重復(fù)連續(xù)卷積法。⑵ 從衍射花樣適當(dāng)?shù)淖V線中得出晶粒尺寸和缺陷的信息。這個步驟主要是找出各種使譜線變寬的因素，并且分離這些因素對寬度的影響，從而計算出所需要的結(jié)果。主要方法有傅里葉法、線形方差法和積分寬度法。

? 集成性使用透射幾何衍射技術(shù)及高靈敏度ccd探測器，同步進(jìn)行xrd及xrf檢測，提供檢測物質(zhì)結(jié)構(gòu)信息和元素成分信息。。

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