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在晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變測(cè)定過程中,需要做的工作有兩個(gè):⑴ 從實(shí)驗(yàn)線形中得出純衍射線形 通遼x射線衍射儀,普遍的方法是傅里葉變換法和重復(fù)連續(xù)卷積法。⑵ 從衍射花樣適當(dāng)?shù)淖V線中得出晶粒尺寸和缺陷的信息。這個(gè)步驟主要是找出各種使譜線變寬的因素,并且分離這些因素對(duì)寬度的影響,從而計(jì)算出所需要的結(jié)果。主要方法有傅里葉法、線形方差法和積分寬度法。
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