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引起精密聚-乙烯電容器低電平失效的具體因素歸納如下：

 

 

引線表面氧化或沾層太薄，以致焊接不牢；

引線與鋁箔點(diǎn)焊接-，沒(méi)有消除鋁箔表面點(diǎn)焊處的氧化鋁膜層；

單引線結(jié)構(gòu)的焊點(diǎn)數(shù)過(guò)少，使出現(xiàn)低電平失效的概率增大；

粗引線根部打扁部分接觸面積雖然較大，但點(diǎn)焊后焊點(diǎn)處應(yīng)力也較大，mlcc出現(xiàn)斷裂，熱處理或溫循過(guò)程中，可能損傷接觸部位，惡化接觸情況；

潮氣進(jìn)入電容器芯子，mlcc裂紋，氧化腐蝕焊點(diǎn)，使接觸電阻增大。

以二氧化鈦為主的陶瓷介質(zhì)中，mlcc，負(fù)荷條件下還可能產(chǎn)生二氧化鈦的還原反應(yīng)，使鈦離子由四價(jià)變?yōu)槿齼r(jià)。陶瓷介質(zhì)的老化-降低了電容器的介電強(qiáng)度，mlcc斷裂怎么辦，可能引起電容器擊穿。因此，這種陶瓷電容器的電解擊穿現(xiàn)象比不含二氧化鈦的陶瓷介質(zhì)電容器-。

銀離子遷移使電容器極間邊緣電場(chǎng)發(fā)生-畸變，又因高濕度環(huán)境中陶瓷介質(zhì)表面凝有水膜，使電容邊緣表面電暈放電電壓-下降，工作條件下產(chǎn)生表面極間飛弧現(xiàn)象。-時(shí)導(dǎo)-容器表面極間飛弧擊穿。

 

 

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