---鍍層涂層測(cè)厚儀_北京時(shí)代tt260現(xiàn)貨_涂層測(cè)厚儀

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北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

打印/連接計(jì)算機(jī) 自帶打印機(jī)/能連接電腦

關(guān)機(jī)方式 手動(dòng)和自動(dòng)

電源 1/2鎳氫電池5×1.2v

外形尺寸 270×86×47mm

重量 530g

北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀基本配置：

主機(jī)、打印機(jī)、f頭或n頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套（50um100um200um500um1000um）、鐵基體或鋁基體、充電器

北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀基本測(cè)量步驟

a) 準(zhǔn)備好待測(cè)試件（參見第4 章）；

b) 將測(cè)頭插頭插入主機(jī)的測(cè)頭插座中，旋緊鎖母；

c) 將測(cè)頭置于開放空間，按一下“on/off”鍵，開機(jī)；

d) 檢查電池電壓；

北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)表

測(cè)頭型號(hào) f400 f1 f1/90 f10 n1 cn02

工作原理 磁感應(yīng) 電渦流

測(cè)量范圍（um） 0-400 0-1250 0-10000 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) 10-200

低限分辨力(um) 0.1 0.1 10 0.1 1

示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±［3%h+1］ ±［3%h+10］ ±［3%h+1.5］ ±［3%h+1］

兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±［(1～3)%h+0.7］ ±［(1～3)%h+1］ ±［(1～3)%h+10］ ±［(1～3)%h+1.5］ -

測(cè)量條件 小曲率半徑(mm) 凸1 凸1.5 平直 10 3 平直

北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀基體

a) 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度 涂層測(cè)厚儀，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法 分體式涂層測(cè)厚儀廠家價(jià)格，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。

b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：

1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；

2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件 -機(jī)械涂層測(cè)厚儀代理，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。

c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。

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