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北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù):
測(cè)頭類型 可選
探頭連接方式 分體式導(dǎo)線連接(可更換)
溫濕度 0~40℃
20%rh~90%rh
統(tǒng)計(jì)功能 平均值(mean)、-值(max)、小值(min)、
測(cè)試次數(shù)(no.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(s.dev)
北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀基本配置:
主機(jī)、打印機(jī)、f頭或n頭、標(biāo)準(zhǔn)片一套(50um100um200um500um1000um)、鐵基體或鋁基體、充電器
影響因素的有關(guān)說明
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響 漆膜涂層測(cè)厚儀廠家***,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
北京時(shí)代tt260涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)表
測(cè)頭型號(hào) f400 f1 f1/90 f10 n1 cn02
工作原理 磁感應(yīng) 電渦流
測(cè)量范圍(um) 0-400 0-1250 0-10000 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) 10-200
低限分辨力(um) 0.1 0.1 10 0.1 1
示值誤差 一點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[3%h+1] ±[3%h+10] ±[3%h+1.5] ±[3%h+1]
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um) ±[(1~3)%h+0.7] ±[(1~3)%h+1] ±[(1~3)%h+10] ±[(1~3)%h+1.5] -
測(cè)量條件 小曲率半徑(mm) 凸1 凸1.5 平直 10 3 平直
a) 對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度 -無損涂層測(cè)厚儀,應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對(duì)于渦流方法 廠家-涂層鍍層測(cè)厚儀,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì) 涂層測(cè)厚儀,應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
2) 用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率,應(yīng)與試樣的曲率相同。
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