led老化電源測(cè)試-帝為檢測(cè)效率快-老化測(cè)試

電源冷熱沖擊測(cè)試方法:(1).在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變,并低溫烘烤1hr；(2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變,轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min., 并高溫烘烤1hr；(3).在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后, 溫度回到常溫將s.m.p.s. 取出(至少恢復(fù)4小時(shí))；(4).確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無與測(cè)試前的差異。帝為生產(chǎn)老化測(cè)試，測(cè)試效率快，產(chǎn)品較好，需要這種測(cè)試系統(tǒng)的朋友可以來電咨詢。

傳統(tǒng)的電源自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)以gpib 卡控制多臺(tái)傳統(tǒng)儀器，完成自動(dòng)化測(cè)試功能。整個(gè)系統(tǒng)受限于傳統(tǒng)儀器功能，不易擴(kuò)展，很難滿足產(chǎn)品升級(jí)所帶來的新的測(cè)試要求；受限于gpib 總線速度，很難實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試和提高測(cè)試速度；受限于封閉式的應(yīng)用軟件，很難進(jìn)行系統(tǒng)維護(hù)和二次開發(fā)。另外，整個(gè)系統(tǒng)的硬件成本非常高，開發(fā)周期非常長(zhǎng)�，F(xiàn)在用的老化測(cè)試能夠滿足當(dāng)代產(chǎn)品的需要，帝為生產(chǎn)老化測(cè)試，歡迎選購(gòu)。