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低本底是指再被測性樣品中,低本底測量儀,除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素(包括樣品的干擾核素)在輻射探測器中產(chǎn)生的信號。低本底測量是指在低本底條件下對樣品進(jìn)行測量,相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測器。
低本底探測器往往選用性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過純化的材料制作探測器及整個裝置。除α探測器外,低本底探測器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽,以防止-和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對探測器和測量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇,以減少噪聲和外界電磁場的干擾等因素引進(jìn)的本底計(jì)數(shù)。
技術(shù)參數(shù)
1.對239pu α標(biāo)準(zhǔn)源的2π探測效率***85%時,本底≤0.08個計(jì)數(shù)cm-2h-1,典型值為 0.02個計(jì)數(shù)cm-2h-1。
2.對于90sr-90y β標(biāo)準(zhǔn)源2π探測效率***40%時,本底≤0.08個計(jì)數(shù)cm-2min-1,低本底測量儀公司,典 型值為0.03個計(jì)數(shù)cm-2min-1。
3.混道性能:α進(jìn)入β道的計(jì)數(shù)效率≤1%,低本底測量儀,β進(jìn)入α道的計(jì)數(shù)效率為零。
4.穩(wěn)定性:8h后,α效率變化在±≤5%;β效率變化在±≤10%范圍內(nèi)。
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對低本底 α 譜儀的基本技術(shù)要求由于一般環(huán)境介質(zhì)中的 α 放射性水平都很低,同時 α 粒子的射程又極短,因此要進(jìn)行 α能譜分析需要滿-下幾個基本要求:
(1)樣品必須足夠薄,以減少由樣品自吸收使 α 譜軟化而造成的“ 拖尾”,一般好-樣品厚度在 50 μg/cm2以下;
(2)樣品的面積足夠大,低本底測量儀多少錢,或者對樣品中的待測核素進(jìn)行足夠的濃縮,以滿足探測靈敏度的要求;
(3)避免在樣品制備過程中有核素被丟失,或者被其他核素交叉污染;
(4)由于低水平測量的計(jì)數(shù)時間很長,因此要求探測系統(tǒng)具有足夠高的探測效率和-的長期工作穩(wěn)定性。
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