易達(dá)測(cè)量 lb2008低本底測(cè)量裝置公司 低本底測(cè)量裝置

低本底技術(shù)指標(biāo)

（1）探測(cè)器：φ75mm×75mm的nal晶體

（2）總道數(shù)：512、1024、2048、4096道任選，實(shí)際應(yīng)用道數(shù)：2048道

（3）能量分辨率：＜7.5%（137cs）

（4）微分非線性：＜0.05%

（5）積分非線性：＜0.1%

（6）直流電源紋波:≤1mvrms

（7）高壓電源紋波:≤20mv

（8）系統(tǒng)穩(wěn)定性:≤1%

（9）數(shù)據(jù)通過率:>;333kcps

（10）脈沖對(duì)分辨率：500ns

（11）分析誤差:符合gb6566-2010<礦產(chǎn)地質(zhì)分析測(cè)試實(shí)驗(yàn)室-規(guī)范>（ej/t751-93）的要求

（12）分析范圍238u:（37～1×106）bg226ra:（37～1×106）bg232th:（12～4×105）bg40k：0.1%～100%

（13）測(cè)量不確定度（樣品活度＞37bq）<10%

（14）使用條件溫度：+5℃～+35℃濕度：≤90%電源：220v±10%50hz

（15）鉛屏蔽室尺寸及重量：680mm×105mm×235mm900kg37～1×106）bg232th:（12～4×105）bg40k：0.1%～100%