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運(yùn)行溫度過高造成cbb電容器損壞的原因
戶外式cbb電容器日光直接照射:cbb電容器露天裝設(shè)于變電站或配電線路上時(shí),由于日光直接照射下,由于超溫運(yùn)行原因,貴州電容,年損壞率-,有的可達(dá)百分之十左右。尤以裝于戶外鐵質(zhì)配電箱中,散熱-,夏季損壞率-高。另外在酷熱天氣突然下暴雨時(shí),也會(huì)集中造成損壞;
環(huán)境溫度過高:目前cbb電容器周圍空氣溫度系按一25-40攝氏度設(shè)計(jì)。環(huán)境溫度不超過40攝氏度的要求,在我國許多地區(qū)難以滿足。因此,cl21電容價(jià)格,新型的低壓無功補(bǔ)償裝置,其周圍空氣溫度系按一30-55攝氏度設(shè)計(jì);
溥膜電容廠家講述電容為什么會(huì)出現(xiàn)扭曲失效?
對(duì)于電容為什么會(huì)出現(xiàn)扭曲失效情況?溥膜電容廠家經(jīng)過實(shí)驗(yàn)得出的結(jié)論是:此種-的可能性很多,按大類及表現(xiàn)可以分為兩種:
smt階段導(dǎo)致的失效
當(dāng)進(jìn)行零件的取放尤其是smt階段零件取放時(shí),取放的定中爪因?yàn)槟p、對(duì)位不準(zhǔn)確,傾斜等造成的。由定中爪集中起來的壓力,cl21電容,會(huì)造成很大的壓力或切斷率,cl21電容供應(yīng),繼而形成點(diǎn)。
這些現(xiàn)象一般為可見的表面裂縫,或2至3個(gè)電極間的內(nèi)部;表面一般會(huì)沿著強(qiáng)的壓力線及陶瓷位移的方向。
真空檢拾頭導(dǎo)致的損壞或﹐一般會(huì)在芯片的表面形成一個(gè)圓形或半月形的壓痕面積﹐并帶有不圓滑的邊緣。此外﹐這個(gè)半月形或圓形的裂縫直經(jīng)也和吸頭相吻合。
另一個(gè)由吸頭所造成的損環(huán)﹐因拉力而造成的﹐裂縫會(huì)由組件中央的一邊伸展到另一邊﹐這些裂縫可能會(huì)蔓延至組件的另一面﹐并且其粗糙的裂痕可能會(huì)令電容器的底部破損。
薄膜電容廠家概述薄膜電容
從封裝形式-類,小的可以有表面貼裝的疊片薄膜電容器和引線式薄膜電容器;中等的有焊片式薄膜電容器、插腳式薄膜電容器和螺栓引出端子薄膜電容器;大型的薄膜電容器基本上都是螺栓式引出端子。
按應(yīng)用領(lǐng)域分類有一般用途電容器、電力電子電容器、功率因數(shù)補(bǔ)償用電力電容器、電熱電容器、緩沖電容器、直流支撐電容器、諧振電容器、高頻電容器等。
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