北京一測(cè)公司-zeiss三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭

對(duì)于表面數(shù)字化，其目的是要獲取零件表面輪廓，這就需要大量獲取輪廓的空間點(diǎn)坐標(biāo)。而對(duì)于接觸式測(cè)頭來說，一個(gè)一個(gè)點(diǎn)逐次獲取的方式是無法勝任百萬數(shù)量級(jí)點(diǎn)數(shù)的要求的，zeiss三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，哪怕是連續(xù)掃描測(cè)頭，zeiss三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)授權(quán)代理，也只是通過測(cè)頭不離開零件表面的方式來提高取點(diǎn)速度，本質(zhì)上還是單點(diǎn)采集。這類應(yīng)用當(dāng)中，zeiss三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，線光源和面光源測(cè)頭就-彌補(bǔ)了接觸式測(cè)頭的不足，線掃描測(cè)頭通過一條由若干點(diǎn)的激光在工件表面移動(dòng)，即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測(cè)頭則是通過一組編碼的光線柵格，-獲取一個(gè)特定大小區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)云。