杭州測(cè)厚儀-測(cè)厚儀廠家-一六儀器(商家)

一六儀器-鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|x-ray測(cè)厚儀|x熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x

-勢(shì)：

 下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

 無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽-范圍0-90mm。

 微-射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

 率的jie shou qi ：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

 精密微型滑軌：快速-定位樣品。

 efp-算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒efp算法軟件。

測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎

測(cè)厚儀的原理：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量，膜厚測(cè)試儀，當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。

膜厚儀：屬于測(cè)厚儀的一種，膜厚儀測(cè)量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂層測(cè)厚儀，為磁阻法和電渦流原理，臺(tái)式的不同原理也有好多種，杭州測(cè)厚儀，電感原理等。

一六儀器  -通力合作打造-x熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，--和變距設(shè)計(jì)，多元efp算法，光譜測(cè)厚儀，簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周?chē)�其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。