泰瑞達(dá)儀器-直讀光譜儀原理-直讀光譜儀

2.樣品激發(fā)不完全，c元素檢測(cè)含量遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于實(shí)際含量。
       故障分析與排除：夏天工作時(shí)，發(fā)現(xiàn)樣品激發(fā)不完全，c元素檢測(cè)含量遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于實(shí)際含量，在排除其他故障因素后，認(rèn)為是環(huán)境溫度過高的影響。打開空調(diào)將分析室室溫調(diào)節(jié)至25度左右，再進(jìn)行樣品激發(fā)，各元素含量檢測(cè)結(jié)果正確，故障解決。所以在季節(jié)變換的時(shí)候，溫度變化較大的時(shí)候，盡量要保持儀器有工作環(huán)境室內(nèi)，溫度恒溫，并及時(shí)做標(biāo)準(zhǔn)化程序來對(duì)曲線進(jìn)行校正。
3.光譜儀的氣速度很快
       故障分析與排除：檢查一下壓力表是否在正常范圍內(nèi)，也可能是氣路各接頭處有漏氣。
4.鋼樣激發(fā)后的激發(fā)點(diǎn)處有黑黑的一圈
       故障分析與排除：首先檢查氣的純度，再看一看氣的火花臺(tái)出口，查看排廢氣的管子是否堵塞，需不需要清理�；鸹ㄅ_(tái)出口堵塞可能會(huì)導(dǎo)致排氣不順暢，使激發(fā)點(diǎn)處呈現(xiàn)黑黑的一圈。如果黑圈顏色較深，還會(huì)不斷的擴(kuò)大，直讀光譜儀品牌，成擴(kuò)散狀，也可能是試樣不平整或者放置試樣的時(shí)候半天漏氣。還有如果激發(fā)的條件發(fā)生變化也可能使激發(fā)后顏色異常。激發(fā)能量大時(shí)黑度可能較大。另外激發(fā)電的積碳現(xiàn)象，漏氣、激發(fā)臺(tái)磨損、試樣不平均都會(huì)造成這樣的現(xiàn)象，更換電極時(shí)也要注意，以免造成積碳現(xiàn)象。

首先說明之前，這里先提到一個(gè)xrf光譜分析技術(shù)，xrf:x射線熒光光譜分析人們通常把x射線照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)x射線叫x射線熒光，而把用來照射的x射線叫原級(jí)x射線，所以x射線熒光仍是x射線，而手持式光譜儀正是基于xrf光譜分析技術(shù)而擴(kuò)展生產(chǎn)的光譜分析儀器，
當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能x射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴，使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài)，當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí)，產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng)，亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。
當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收，火花直讀光譜儀，而是以光子形式放出，便產(chǎn)生x射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。