大外徑千分尺-天津桂量量具刃具公司-廣州外徑千分尺

外徑千分尺示值誤差超差的修理：外徑千分尺在檢定示值誤差前要先把測量下限調(diào)整正確，此時微分簡上的零刻線與固定套管縱刻線對準，訂購外徑千分尺，微分簡的端面與固定套管測量下限毫米刻線右邊緣應相切。若不相切，壓線不大于0.05mm ，離線不大于0．1mm。如果壓、離線超出上述要求，為了防止讀錯數(shù)，就要對固定套管在軸向位置上進行調(diào)整。壓線時把固定套管往左移，-時可在砂輪機上根據(jù)壓線的大小把固定套管的左端面磨掉一部分；離線時把固定套管往右移。經(jīng)過上述調(diào)整后就可以對外徑千分尺的示值誤差進行檢定了。檢定時用a+5．12，a+10．24，a+1 5．36，a+21．5，a+25 mm尺寸的4等(0級外徑千分尺)或5等(1級外徑千分尺)量塊進行檢定， a為外徑千分尺的測量下限。如果外徑千分尺的示值超差，一般在測微螺桿上涂上氧化鉻用“正拉負推”的方法進行研磨。即當檢定結果為正超差時，在該部位轉動研磨時施加軸向的拉力；當檢定結果為負超差時，在該部位轉動研磨時施加軸向的推力。通過軸向的拉、推力，來加快磨削磨損牙面的對稱牙面。

游標卡尺的基本發(fā)展過程如下：

現(xiàn)代測量價值的游標卡尺一般認為是由法-約尼爾·比爾發(fā)明的。他是一名數(shù)學家，外徑千分尺，在他的專著<新四分圓的結構、利用及特性>中記述了游標卡尺的結構和原理，而他的名字vernier變成了英文的游標一詞沿用至今。1851年由美國brown & sharpe 公司將nonuth 及 vernier 兩個構想制造出支游標卡尺，后由德國masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標卡尺。1856年日本也普及了游標卡尺，廣州外徑千分尺，游標卡尺的制造技術逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長度。19世紀中葉，美國機械工業(yè)快速發(fā)展，美國夏普機械有限公司創(chuàng)始人與1985年秋，成功加工出了上批四把0-4英寸的游標卡尺，其精度達到了0.001毫米。