film電容-蘇州春發(fā)電子-臺州電容

向陶瓷電容器施加超過其額定電壓的電壓，會導(dǎo)致短路故障還是開路故障　　

一般來說，向電容器施加過量電壓后都會導(dǎo)致短路故障。片狀獨(dú)石陶瓷電容器的損壞電壓為其額定電壓的5~10倍以上，稍高于額定電壓的外加電壓很難對電容器造成瞬間損壞。

但在使用中如向電容器施加的電壓超過其額定電壓，cbb22電容，則不在保修范圍之內(nèi)。

電容器的電壓加速和溫度加速　　

通過電壓加速與溫度加速系數(shù)可推算出電容器的使用壽命�？蓪�產(chǎn)品使用時的外部環(huán)境溫度及施加電壓作為參數(shù)進(jìn)行公式化。 一般來說，阿列紐斯法則被廣泛用于加速公式中，臺州電容，而我們運(yùn)用以下公式便可簡單地進(jìn)行推算。 47_01cn.png 在此公式的基礎(chǔ)上，通過在更為嚴(yán)苛的條件(更高溫、更高電壓)下進(jìn)行加速試驗，可推算出產(chǎn)品在實際使用環(huán)境下的使用壽命。 在此，我們一起來比較一下獨(dú)石陶瓷電容器的加速試驗與實際產(chǎn)品使用的假定環(huán)境。我們將電容器的加速試驗-耐久試驗時間視為la，將實際使用環(huán)境下的相當(dāng)年數(shù)視為ln，用于上述公式。 耐久試驗條件 假定使用環(huán)境 電壓加速系數(shù) 溫度加速系數(shù) 相應(yīng)年限 ta＝85°c va＝20v la＝1000h tn＝65°c vn＝5v n＝4 θ＝8 ln＝？h 這樣，薄膜電容，我們即可通過在85°c、施加20v電壓的環(huán)境下進(jìn)行了1000h的耐久試驗，推算出在5°c、施加5v電壓的環(huán)境下產(chǎn)品使用年限為1448155h(≒165年！)。計算中使用的電壓加速系數(shù)、溫度加速系數(shù)會由陶瓷材料的種類及構(gòu)造產(chǎn)生不同，但通過加速計算公式可在相對較短的時間內(nèi)利用試驗結(jié)果來驗證長時間的實際使用環(huán)境中的產(chǎn)品使用壽命。

電容器在電源中的應(yīng)用之浪涌電壓保護(hù)

開關(guān)頻率-的現(xiàn)代功率半導(dǎo)體器件易受潛在的損害性電壓尖峰脈沖的影響。跨接在功率半導(dǎo)體器件兩端的浪涌電壓保護(hù)電容器通過吸收電壓脈沖-了峰值電壓，film電容，從而對半導(dǎo)體器件起到了保護(hù)作用，使得浪涌電壓保護(hù)電容器成為功率元件庫中的重要一員。

半導(dǎo)體器件的額定電壓和電流值及其開關(guān)頻率左右著浪涌電壓保護(hù)電容器的選擇。由于這些電容器承受著很陡的dv/dt值，因此，對于這種應(yīng)用而言，薄膜電容器是恰當(dāng)之選。