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江蘇一六儀器 x射線熒光鍍層測厚儀
-勢:
下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽-范圍0-90mm。
微-射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
jie shou 器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。
efp-算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒efp算法軟件。
統(tǒng)計計算功能平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、max值、min值、數(shù)據(jù)變動范圍、cp、數(shù)據(jù)編號、cpk、控制上限圖、控制下限圖數(shù)據(jù)分組、x-bar/r圖表直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、--任選軟件統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析檢測。
江蘇一六儀器 x熒光光譜測厚儀 特點
快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。
方便:x熒光光譜儀部分機型采用進口國際上-的電制冷半導(dǎo)體探測器,能量分辨率-于135ev,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用方便,并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品-。
無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。
直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣:x熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從na到u。
-性高:由于測試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性-。所以,熒光測厚儀,其測量的-性更高。
滿足不同需求:測試軟件為windows操作系統(tǒng)軟件,電鍍膜厚儀,操作方便、功能-,軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)定儀器參數(shù),并就有多種-的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
-:相比化學(xué)分析類儀器,鍍層膜厚儀,x熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,紹興測厚儀,可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易:對人員技術(shù)要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。
江蘇一六儀器 x射線熒光光譜測厚儀
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點,重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,-測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動平臺,鼠標(biāo)-的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果-
-的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
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