鍍層分析儀-測厚儀-江蘇一六儀器

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(ci)- -(u)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素 厚度檢出限:0.005um

（一）、外部結(jié)構(gòu)原理圖

x熒光做鍍層分析時(shí)，根據(jù)射線是而下照射樣品，還是至下而上照射樣品的方式，將x熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。

（二）、各種外部結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)

1、上照射方式

   用于照射(激發(fā))的x射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的z軸為可移動(dòng)方式，用于確定射線照射光斑的焦點(diǎn)，-測量的準(zhǔn)確性。

、z軸的移動(dòng)方式

   根據(jù)z軸的移動(dòng)方式，分為自動(dòng)和手動(dòng)兩類；

自動(dòng)型的設(shè)備完全由程序與自動(dòng)控制裝置實(shí)現(xiàn)，其光斑對(duì)焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都-，而且使用非常簡便（一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式），一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上-一下即可定位。此類設(shè)備對(duì)于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設(shè)備類型。

、x、y軸水平移動(dòng)方式

水平移動(dòng)方式一般分為：無x、y軸移動(dòng)裝置；手動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置；電動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置；全程控自動(dòng)x、y軸移動(dòng)裝置。

這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實(shí)際需要而設(shè)計(jì)的，測厚儀，例如：使用無x、y軸移動(dòng)裝置的也很多，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動(dòng)完全靠手動(dòng)移動(dòng)，這種設(shè)備適合于樣品面積較大，定位比較容易的測試對(duì)象。  

一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集，-efp算法  x射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件，led和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合-定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

這些方法中-種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，鍍層膜厚儀，多適用于抽樣檢驗(yàn)。x射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。x射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，-是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且-，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。