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x射線分析的新發(fā)展,金屬x射線分析由于設(shè)備和技術(shù)的普及已逐步變成金屬研究和有機(jī)材料 河池x射線衍射儀,納米材料測(cè)試的常規(guī)方法。而且還用于動(dòng)態(tài)測(cè)量。早期多用照相法,這種方法費(fèi)時(shí)較長(zhǎng),強(qiáng)度測(cè)量的-度低。50年代初問(wèn)世的計(jì)數(shù)器衍射儀法具有快速、強(qiáng)度測(cè)量準(zhǔn)確,并可配備計(jì)算機(jī)控制等優(yōu)點(diǎn) 北海x射線衍射儀,已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。但使用單色器的照相法在微量樣品和探索未知新相的分析中仍有自己的特色。從70年代以來(lái),隨著高強(qiáng)度x射線源(包括強(qiáng)度的旋轉(zhuǎn)陽(yáng)極x射線發(fā)生器、電子同步加速輻射,高壓脈沖x射線源)和高靈敏度探測(cè)器的出現(xiàn)以及電子計(jì)算機(jī)分析的應(yīng)用,使金屬 x射線學(xué)獲得新的推動(dòng)力。這些新技術(shù)的結(jié)合,不僅-加快分析速度,提-,而且可以進(jìn)行瞬時(shí)的動(dòng)態(tài)觀察以及對(duì)更為微弱或精細(xì)效應(yīng)的研究。
應(yīng)力的測(cè)定
x射線測(cè)定應(yīng)力以衍射花樣特征的變化作為應(yīng)變的量度。宏觀應(yīng)力均勻分布在物體中較大范圍內(nèi),產(chǎn)生的均勻應(yīng)變表現(xiàn)為該范圍內(nèi)方向相同的各晶粒中同名晶面間距變化相同,導(dǎo)致衍射線向某方向位移 x射線衍射儀,這就是x射線測(cè)量宏觀應(yīng)力的基礎(chǔ);微觀應(yīng)力在各晶粒間甚至一個(gè)晶粒內(nèi)各部分間彼此不同,產(chǎn)生的不均勻應(yīng)變表現(xiàn)為某些區(qū)域晶面間距增加、某些區(qū)域晶面間距減少,結(jié)果使衍射線向不同方向位移 貴港x射線衍射儀,使其衍射線漫散寬化,這是x射線測(cè)量微觀應(yīng)力的基礎(chǔ)。超微觀應(yīng)力在應(yīng)變區(qū)內(nèi)使原子偏離平衡位置,導(dǎo)致衍射線強(qiáng)度減弱,故可以通過(guò)x射線強(qiáng)度的變化測(cè)定超微觀應(yīng)力。測(cè)定應(yīng)力一般用衍射儀法。
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