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(2)不斷的設(shè)計規(guī)模,導(dǎo)致綜合功能驗證和物理驗證等運行時長更長 (3)從片上系統(tǒng)到系統(tǒng)對接帶來的設(shè)計方法學(xué)和驗證方法學(xué)的性變化 與此同時,-、5g通信、智能汽車等新應(yīng)用領(lǐng)域正快速發(fā)展,對芯片性能的要求越來越高,功耗、成本的要求趨于分化,導(dǎo)致芯片設(shè)計驗證的成本隨之急劇上升
而復(fù)雜且費時費力的調(diào)試工程,又是關(guān)鍵驗證工作的重中之重 02.無法替代的調(diào)試工作 在典型的芯片設(shè)計過程,驗證占據(jù)了約70%的工作量,其中的調(diào)試(debug)就占了40% 驗證包含的原型驗證、硬件仿真、軟件仿真、形式驗證等環(huán)節(jié)都需要調(diào)試


調(diào)試在其中穿針引線、綜合資料,然后加以分析,進而達到有效的診斷 在整個設(shè)計驗證的流程中,debug是不可欠缺、無法替代的 芯華章科技研發(fā)副總裁林揚淳記得,即便是非調(diào)試的場景,客戶也常常利用調(diào)試工具來檢視和理解整個設(shè)計
但據(jù)其-,調(diào)試產(chǎn)品的供需存在著落差 原因有三: 一是缺乏,-、機器學(xué)習和云計算已是不可逆的趨勢,而市面上的產(chǎn)品卻甚少掌握,頂多只是 沾點皮毛 二是資料的碎片化、凌亂甚#矛盾 點、步驟之間常常需要轉(zhuǎn)換,不僅耗時,更容易出錯

造成如此現(xiàn)象#的原因,就是缺乏整體性的規(guī)劃,僅憑商業(yè)并購,將不同公司的工具拼湊在一起造成的 林揚淳強調(diào) 兼容性會直接影響芯片的體驗,這是驗證過程中經(jīng)常遇到的問題 中興微電子有線系統(tǒng)部賀志強對此進一步拆解,它既包括不同eda廠商的工具的兼容性,也包括同一家廠商工具的不同驗證手段的兼容性

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