prismaprismaex多功能環(huán)境真空鎢燈絲分析掃描電子顯微鏡

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憑借過(guò)去 60 年的技術(shù)-歷史和業(yè)內(nèi)領(lǐng)dao-， fei 成為了透射電子顯微鏡 (tem)、 掃描電子顯微鏡 (sem)、整合了 sem 與-離子束 (fib) 的 dualbeam 儀器和 用于精密高速切割與加工的--離子束儀器的性能標(biāo)準(zhǔn)。 fei 成像系統(tǒng)在三維 表征、分析和修改/原型設(shè)計(jì)領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了亞埃(埃:十分之一納米)級(jí)分辨率。

性能與優(yōu)點(diǎn)




prisma & prisma ex多功能環(huán)境真空鎢燈絲分析掃描電子顯微鏡

一款真正多用途實(shí)驗(yàn)室用性能全面、易操作的sem鎢燈絲掃描電子顯微鏡
具有-的esem 環(huán)境真空模式
高真空、低真空和esem 環(huán)境真空三種真空模式，適合分析廣泛的樣品，樣品范圍包括導(dǎo)電材料、不導(dǎo)電材料、脫氣、未鍍膜或其他不適用真空的樣品。
一系列集成的實(shí)時(shí)分析軟件來(lái)完成動(dòng)態(tài)的實(shí)驗(yàn)檢測(cè)分析。
低真空和esem環(huán)境真空能夠滿足非導(dǎo)電材料和含稅樣品的檢測(cè)分析
原位功能使即使是絕緣的或高溫的樣品也能獲得-的分析結(jié)果。
支持掃描前的預(yù)設(shè)置，具有導(dǎo)航和smartscantm功能的相機(jī)提高了工作效率、數(shù)據(jù)和滿足更高要求的使用要求。
-165°c to 1400°c溫度范圍下的原位分析
加速電壓: 200 v - 30 kv
電子放大倍數(shù): 6x – 1,000,000x (可同時(shí)采集和顯示四幅圖像)
探測(cè)器：高真空模式everhart-thomley二次電子探測(cè)器(e-t sed)；低真空se探測(cè)器（lvd）；esem環(huán)境真空模式氣體二次電子探測(cè)器（gesd）；樣品室紅外ccd相機(jī)
真空系統(tǒng)：1個(gè)250l/s渦輪分子泵，1個(gè)旋轉(zhuǎn)機(jī)械泵；-的“穿過(guò)透鏡”的壓差真空系統(tǒng)；排氣時(shí)間≤3.5min到高真空，≤4.5min到esem真空/低真空；可選cryocleaner冷阱；可選升級(jí)到無(wú)油滾動(dòng)/干式pvps
樣品室：
o 內(nèi)徑 340 mm

o 分析工作距離 10 mm

o 12個(gè)附件接口

o eds采集角: 35°

分辨率：
高真空模式

3.0 nm @ 30 kv (se)
4.0 nm @ 30 kv (bse)*
8.0 nm @ 3 kv (se)
高真空下減速模式

7.0 nm @ 3 kv
低真空模式

3.0 nm @ 30 kv (se)
4.0 nm @ 30 kv (bse)
10 nm @ 3 kv (se)
esem環(huán)境真空
3.0 nm @ 30 kv (se)

     本公司主營(yíng)： 徠卡顯微鏡Leica - 博勢(shì)Proceq - 威爾遜Wilson - 英斯特朗試驗(yàn)機(jī) - 標(biāo)樂(lè)BUEHLER
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