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像頭晶元,-頭晶圓, 三星-頭晶圓, 索尼sony-頭晶元.
downgrade cmos image sensor wafer。
.噪聲這是影響cmos傳感器性能的首要問題。這種噪聲包括固定圖形噪聲fpn(fixed pattern noise)、暗電流噪聲、熱噪聲等。
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將對測量技術(shù)產(chǎn)生影響:利用包含一個數(shù)碼相機(jī)、pda用戶接口和wlan聯(lián)網(wǎng)能力的便攜式檢驗工具,光測試和監(jiān)視的應(yīng)用范圍將得到有效的拓展。
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