測(cè)量、變形（沉降）觀測(cè)、泰安環(huán)宇測(cè)繪公司

測(cè)量分類(lèi)

　　直接測(cè)量：無(wú)需對(duì)被測(cè)量與其他實(shí)測(cè)量進(jìn)行一定函數(shù)關(guān)系的輔助計(jì)算而直接得到被測(cè)量值得測(cè)量。

　　間接測(cè)量：通過(guò)直接測(cè)量與被測(cè)參數(shù)有已知函數(shù)關(guān)系的其他量而得到該被測(cè)參數(shù)量值的測(cè)量。

　　接觸測(cè)量：儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面直接接觸 變形（沉降）觀測(cè)，并有機(jī)械作用的測(cè)力存在（如接觸式三坐標(biāo)等）。

　　非接觸測(cè)量：儀器的測(cè)量頭與工件的被測(cè)表面之間沒(méi)有機(jī)械的測(cè)力存在（如光學(xué)投影儀、氣動(dòng)量?jī)x測(cè)量和影像測(cè)量?jī)x等）。

　　組合測(cè)量：如果被測(cè)量有多個(gè) 測(cè)量，雖然被測(cè)量（未知量）與某種中間量存在一定函數(shù)關(guān)系，但由于函數(shù)式有多個(gè)未知量，對(duì)中間量的一次測(cè)量是不可能求得被測(cè)量的值。這時(shí)可以通過(guò)改變測(cè)量條件來(lái)獲得某些可測(cè)量的不同組合，然后測(cè)出這些組合的數(shù)值，解聯(lián)立方程求出未知的被測(cè)量。

　　比較測(cè)量：比較法是指被測(cè)量與已知的同類(lèi)度量器在比較器上進(jìn)行比較 控制測(cè)量，從而求得被測(cè)量的一種方法。這種方法用于高準(zhǔn)確度的測(cè)量。

　　零位法：被測(cè)量與已知量進(jìn)行比較，使兩者之間的差值為零，這種方法稱(chēng)為零位法。例如電橋、天平、桿秤 、檢流計(jì)

　　偏位法 ：被測(cè)量直接作用于測(cè)量機(jī)構(gòu)使指針等偏轉(zhuǎn)或位移以指示被測(cè)量大小。

　　替代法 ：替代發(fā)是將被測(cè)量與已知量先后接入同一測(cè)量?jī)x器，在不改變儀器的工作狀態(tài)下，使兩次測(cè)量?jī)x器的示值相同，則認(rèn)為被測(cè)量等于已知量。例如曹沖稱(chēng)象。

　　累積法：被測(cè)量的物體的量值太小，不能夠用測(cè)量?jī)x器直接測(cè)量單一的物體，則測(cè)量相同規(guī)格的物體集合再求其平均值的方法，如測(cè)量一張紙張的厚度，一根頭發(fā)絲的直徑，一顆訂書(shū)針的等。