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小尺寸集成電路cdm測(cè)試
ic cdm test fsmall devices robert ashton 安森美半導(dǎo)體 安森美,marty johnson 儀器 安森美電源,scott ward 德州儀器 速變小直至消失。我們?cè)诖饲暗奈恼轮性? 安森美芯片,極小器件的峰值電流并不像通常認(rèn)為的那樣快速變小直至消失。高速示波器測(cè)量顯示,即使脈沖寬度變得很窄,極小器件的峰值電流仍令人吃驚地保持高電平。過去,由于這些大峰值電流被忽略,因?yàn)槭褂昧藞?chǎng)致cdm測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)所提倡的1 ghz示波器,而場(chǎng)致cdm測(cè)試 是普及的cdm測(cè)試形式。
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