太陽膜透過率測(cè)試儀廠家_景頤_太陽膜透過率測(cè)試儀

廣州景頤光電科技有限公司光譜透過率檢測(cè)儀采用-的光譜測(cè)量技術(shù) 生產(chǎn)太陽膜透過率測(cè)試儀，可進(jìn)行微小樣品全光譜的透過率快速測(cè)量 太陽膜透過率測(cè)試儀，具有快速、簡(jiǎn)易、準(zhǔn)確等特性。是目前市場(chǎng)上-款、-、--的透過率-檢測(cè)儀器。適用于各種手機(jī)屏幕小孔、手機(jī)鍵盤發(fā)光孔、平板面板小孔、光學(xué)元件、平面玻璃、濾光片、ir油墨孔鍍膜鏡片、顯示屏、觸摸面板等產(chǎn)品透過率測(cè)量。公司擁有-的透過率測(cè)試儀、透光率檢測(cè)儀、透過率測(cè)試儀、ir油墨孔透過率檢測(cè)儀、光學(xué)透過率測(cè)量儀等。

光譜范圍 :  400-1000nm

分辨率 :  1nm

信噪比 :  300：1

相對(duì)檢測(cè)誤差 :≤0.5%

重復(fù)精度 :  ≤0.5 %

測(cè)量速度 :  ≤1s

小測(cè)量孔徑 :  1mm

光源 :  進(jìn)口鹵素?zé)?