藍(lán)牙設(shè)計(jì)問(wèn)題-歐普蘭

大家經(jīng)常查閱資料，振鈴問(wèn)題說(shuō)法多種多樣，主要是分析思路不同，藍(lán)牙芯片設(shè)計(jì)，屬于殊途同歸效果。總結(jié)下來(lái)，振鈴現(xiàn)象可以從兩個(gè)方面進(jìn)行分析。

（1）  

以電壓反射角度對(duì)振鈴分析

（2）  

以傳輸線(xiàn)模型，按照l(shuí)c震蕩進(jìn)行振鈴分析

   后續(xù)針對(duì)這兩個(gè)方面，會(huì)進(jìn)行詳細(xì)分析說(shuō)明，以及案例分析，讓大家對(duì)振鈴問(wèn)題、過(guò)沖問(wèn)題、上升沿爬坡較慢問(wèn)題的根因有清晰的認(rèn)識(shí)。只有對(duì)這些問(wèn)題清楚的認(rèn)識(shí)，我們才能有針對(duì)性的根據(jù)問(wèn)題進(jìn)行端接電阻的調(diào)整、走線(xiàn)布局的修正、串接電阻的大小評(píng)估等等。

體電阻率和方塊電阻是一個(gè)意思，終都會(huì)折算到金屬電導(dǎo)率，其差異變化會(huì)影響金屬層電導(dǎo)率波動(dòng)。電導(dǎo)率波動(dòng)會(huì)直接影響em結(jié)果，例如器件損耗等；線(xiàn)寬波動(dòng)也會(huì)直接對(duì)em結(jié)果帶來(lái)差異影響，例如l、q等。

下面截圖是pdk中l(wèi)de信息：

peakview軟件的配置文件-慮了lde，-精度更接近實(shí)測(cè)結(jié)果。在當(dāng)前-的工藝中，更能提升流片成功率。在一些7nm等-工藝中，pdk信息是加密的，這種lde信息已不能靠人工處理，peakview可以通過(guò)軟件自動(dòng)解析進(jìn)行加載，為工作帶來(lái)精度-和便利。

peakview會(huì)識(shí)別pdk中的lde信息，轉(zhuǎn)換配置文件時(shí)以方塊電阻變化表、線(xiàn)寬變化表映射lde信息。時(shí)peakview根據(jù)不同的設(shè)計(jì)尺寸來(lái)查表，調(diào)用實(shí)際的方塊電阻和線(xiàn)寬值，-結(jié)果更接近實(shí)測(cè)值。