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高壓陶瓷電容器的-性測試，也叫老化測試，壽命測試，包括很多方面的測試內(nèi)容：
1，耐壓實驗，包括額定工作電壓24小時工作測試；也包括擊穿耐壓 -品牌安規(guī)電容，即破壞性測試，電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。
2，串聯(lián)電阻測試 安規(guī)電容，絕緣電阻測試；
3，拉力測試，即引線與芯片焊接的牢固度；
4，正負(fù)溫變化率測試，即-40度到+60度狀況下，電容的變化率；
5，老化測試，電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測試其衰減其各項參數(shù)的變化；
6，壽命測試，即在老化測試的基礎(chǔ)上，再對電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，注意，這個壽命的得出是在長時間的老化之后得出的。
7，局放測試，即局部放電測試；
當(dāng)然，在這些測試過程中，我們可以得出各種參數(shù)，如額定電壓，擊穿電壓 y2 472m250v安規(guī)電容，過電流，工作頻率 y2 222m250v安規(guī)電容，容量變化率，絕緣電阻，等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時，都要重新進(jìn)行測試，才能準(zhǔn)確判斷產(chǎn)品是否合格。
薄膜電容器是以金屬箔當(dāng)電極，將其和聚-，-，聚笨乙烯或聚-等塑料薄膜，從兩端重疊后，卷繞成圓筒狀的構(gòu)造之電容器。而依塑料薄膜的種類又被分別稱為聚-電容（又稱mylar電容），-電容（又稱pp電容），聚-乙烯電容（又稱ps電容）和聚碳酸電容。
薄膜電容的分類
1、按電解質(zhì)分類
按電解質(zhì)的不同可將薄膜電容器分為以下三種類型： 薄膜電容
t型：即pet –polyethylene(聚乙烯對-酸鹽（或酯）)
p型：即pp-polypropylene（-）
n型：即pen-polyethylene naphthalate （聚乙烯石腦油）
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