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高壓陶瓷電容器的-性測(cè)試,也叫老化測(cè)試,壽命測(cè)試,包括很多方面的測(cè)試內(nèi)容:
1 104高壓陶瓷電容,耐壓實(shí)驗(yàn) 101低壓陶瓷電容,包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測(cè)試,電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
2,串聯(lián)電阻測(cè)試,絕緣電阻測(cè)試;
3,拉力測(cè)試,即引線與芯片焊接的牢固度;
4,正負(fù)溫變化率測(cè)試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
5,老化測(cè)試,電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天,測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化;
6,壽命測(cè)試,即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上,再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。
7,局放測(cè)試,即局部放電測(cè)試;
當(dāng)然,在這些測(cè)試過(guò)程中,我們可以得出各種參數(shù),如額定電壓 陶瓷電容,擊穿電壓,過(guò)電流,工作頻率,容量變化率,絕緣電阻,等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時(shí),都要重新進(jìn)行測(cè)試,才能準(zhǔn)確判斷產(chǎn)品是否合格。
金屬化薄膜電容器
金屬化薄膜電容器所使用的薄膜有聚-、-、聚-等 103低壓陶瓷電容,除了卷繞型之外,也有疊層型。金屬化薄膜這種型態(tài)的電容器具有一種所謂的自我復(fù)原作用(self
healing
action),即假設(shè)電極的微小部分因?yàn)殡娊缳|(zhì)脆弱而引起短路時(shí),引起短路部分周?chē)碾姌O金屬,會(huì)因當(dāng)時(shí)電容器所帶的靜電能量或短路電流,而引發(fā)面積的溶
融和蒸發(fā)而恢復(fù)絕緣,使電容器再度回復(fù)電容器的作用。
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