表面分析顯微鏡,金屬表面分析顯微鏡,特維尼科技

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產(chǎn)品規(guī)格及基本參數(shù)
名 稱 參  數(shù)
工
作
臺 x坐標(biāo)行程:(mm) 200
y坐標(biāo)行程：(mm) 100
z坐標(biāo)行程：(mm) 150（調(diào)焦）
z坐標(biāo)升降行程:(mm)：150(調(diào)焦) 工作距離（mm）：180
x、y、z數(shù)顯分辨率：0.0005mm x、y坐標(biāo)示值誤差：≤（3+l/5

立--微-
儀器-牌：日本olympus
儀器規(guī)格及型-：olympus 4045tr
1. 本-zoom body 電路表面分析顯微鏡，0.67-4倍
2. 10倍目-一-
3. fousing mount-焦座
4. 載物座
)
9. jvc-昇-式掃描-

 

儀器規(guī)格：
1． 倍率範(fàn)圍：50~450倍
2． 焦距範(fàn)圍：20~20mm
相-微-xjx-200
標(biāo)-倍率:40x-400x
目-: 10x  2pcs
物-:4x 金屬表面分析顯微鏡，10x， 40x，
4． -野範(fàn)圍:5.2x4.0~0.55x0.4m

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